সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার বিশ্লেষক দ্বৈত সিপিইউ সর্বোচ্চ ভোল্টেজ 40V এলসিআর 0.56ms 10 বিন
সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার বিশ্লেষক
,আইসিআর বিশ্লেষক
,অর্ধপরিবাহী বিশ্লেষক
TH511 সেমিকন্ডাক্টর সিভি বিশ্লেষকঃ ডুয়াল সিপিইউ, ম্যাক্স.ভোল্টেজ ±40V, এলসিআর 0.56ms, 10 বিন
-
পরীক্ষায় এবং চরিত্রায়নে অ্যাপ্লিকেশনঃ ডিসি বায়াস বর্তমান উত্সটি ট্রানজিস্টর, ডায়োড,ইন্টিগ্রেটেড সার্কিট (IC)এটি নির্দিষ্ট পক্ষপাতের অবস্থার অধীনে ডিভাইসের আচরণের মূল্যায়ন করতে সক্ষম করে, লাভ, রৈখিকতা, ফুটো বর্তমান এবং প্রান্তিক ভোল্টেজের মতো পরামিতিগুলি পরিমাপ করা সহজ করে।অতিরিক্তভাবে, এটি পরিমাপ সরঞ্জামের ক্যালিব্রেশনে ব্যবহৃত হয়, যা সঠিক এবং ট্র্যাকযোগ্য ফলাফল নিশ্চিত করে।
ইউটিউবে আমাদের শিখিয়ে দাও।
বৈশিষ্ট্য
10.1-ইঞ্চি ক্যাপাসিটিভ টাচ স্ক্রিন, রেজোলিউশন 1280*800, লিনাক্স সিস্টেম
দ্বৈত সিপিইউ আর্কিটেকচার, এলসিআর ফাংশনের দ্রুততম পরীক্ষার গতি 0.56ms
তিনটি পরীক্ষার পদ্ধতিঃ স্পট টেস্ট, তালিকা স্ক্যান এবং গ্রাফিক স্ক্যান (বিকল্প)
চারটি পরজীবী পরামিতি (Ciss, Coss, Crss, Rg) একই স্ক্রিনে পরিমাপ এবং প্রদর্শিত হয়
সিভি কার্ভ স্ক্যান, সিস-আরজি কার্ভ স্ক্যান
ইন্টিগ্রেটেড ডিজাইনঃ এলসিআর + ভিজিএস নিম্ন ভোল্টেজ উত্স + ভিডিএস উচ্চ ভোল্টেজ উত্স + চ্যানেল স্যুইচিং + পিসি
স্ট্যান্ডার্ড 2-চ্যানেল পরীক্ষা, যা একই সময়ে দুটি ডিভাইস বা ডুয়াল চিপ ডিভাইস পরীক্ষা করতে পারে, চ্যানেলটি 6 এ প্রসারিত করা যেতে পারে, চ্যানেল পরামিতি পৃথকভাবে সংরক্ষণ করা হয়
দ্রুত চার্জিং, ক্যাপাসিটর চার্জিং সময় সংক্ষিপ্ত এবং দ্রুত পরীক্ষা সক্ষম
স্বয়ংক্রিয় বিলম্ব সেটিং
উচ্চ বিচ্যুতিঃ VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V
১০টি বাক্স বাছাই করা
অ্যাপ্লিকেশন
সেমিকন্ডাক্টর উপাদান/পাওয়ার উপাদান
ডায়োড, ট্রিওড, এমওএসএফইটি, আইজিবিটি, থাইরিস্টর, ইন্টিগ্রেটেড সার্কিট, অপটোইলেকট্রনিক চিপ ইত্যাদির পরজীবী ক্যাপাসিট্যান্স পরীক্ষা এবং সি-ভি বৈশিষ্ট্য বিশ্লেষণ
সেমিকন্ডাক্টর উপাদান
ওয়েফার, সি-ভি বৈশিষ্ট্য বিশ্লেষণ
তরল স্ফটিক উপাদান
ইলাস্টিক ধ্রুবক বিশ্লেষণ
ক্যাপাসিটিভ উপাদান
ক্যাপাসিটার সি-ভি বৈশিষ্ট্য পরীক্ষা এবং বিশ্লেষণ, ক্যাপাসিটিভ সেন্সর পরীক্ষা এবং বিশ্লেষণ
বিশেষ উল্লেখ
| মডেল | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| চ্যানেল | 2 (4/6 Ch ঐচ্ছিক) | 2 | |||||
| প্রদর্শন | প্রদর্শন | 10.1-ইঞ্চি ক্যাপাসিটিভ টাচস্ক্রিন | |||||
| অনুপাত | 0.672916667 | ||||||
| রেজোলিউশন | ১২৮০*আরজিবি*৮০০ | ||||||
| পরীক্ষার পরামিতি | Ciss, Coss, Crss, Rg. চারটি প্যারামিটার নির্বিচারে নির্বাচনযোগ্য | ||||||
| পরীক্ষার ফ্রিকোয়েন্সি | পরিসীমা | ১ কিলোহার্টজ-২ মেগাহার্টজ | |||||
| সঠিকতা | 0.0001 | ||||||
| রেজোলিউশন | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz10.0000kHz-99.9999kHz | |||||||
| 1Hz100.000kHz-999.999kHz | |||||||
| 10Hz1.00000MHz-2.00000MHz | |||||||
| পরীক্ষার মাত্রা | ভোল্টেজ রেঞ্জ | 5mVrms-2Vrms | |||||
| সঠিকতা | ± (10%*সেটিং ভ্যালু+2mV) | ||||||
| রেজোলিউশন | 1mVrms5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms1Vrms-2Vrms | |||||||
| ভিজিএস | পরিসীমা | 0 - ±40V | |||||
| সঠিকতা | ১%* সেটিং ভোল্টেজ+৮ এমভি | ||||||
| রেজোলিউশন | 1mV0V - ±10V | ||||||
| 10mV10V - ±40V | |||||||
| ভিডিএস | পরিসীমা | ০-২০০ ভোল্ট | ০-১৫০০ ভোল্ট | ০-৩০০০ ভোল্ট | |||
| সঠিকতা | ১%* সেটিং ভোল্টেজ+১০০ এমভি | ||||||
| আউটপুট প্রতিবন্ধকতা | 100, ±2%@1kHz | ||||||
| গণনা | নামমাত্র মান থেকে পরম বিচ্যুতি, নামমাত্র মান থেকে শতাংশ বিচ্যুতি % | ||||||
| ক্যালিব্রেশন ফাংশন | খোলা, সংক্ষিপ্ত, লোড | ||||||
| পরিমাপের গড় | ১-২৫৫ বার | ||||||
| এডি রূপান্তর সময় (এমএস/সময়) | দ্রুত +: 0.56ms (>5kHz), দ্রুতঃ 3.3ms, মাঝারিঃ 90ms, ধীরঃ 220ms। | ||||||
| মৌলিক নির্ভুলতা | 0.001 | ||||||